首页西安功率器件测试应用中心设备介绍

可靠性实验室

编号 设备名称 功能 试验标准
XR-001 高低温湿热环境试验箱 85/85/高温高湿试验/HTST/LTST JESD22-A101/MIL-STD 750
XR-002 高低温循环试验箱 温度循环试验 MIL-STD 750 Method 1051
XR-003 高温反偏老炼检测系统设备 高温反偏试验 JESD22-A108
XR-004 高温门极老炼检测系统设备 高温门极反偏试验 JESD22-A108
XR-005 高加速寿命与应力筛选试验箱 加速寿命试验与高加速应力实验 Trail data
XR-006 高加速应力试验箱 高压蒸煮实验/加速应力实验 JESD22A-102/JESD22A-110
XR-007 回流焊炉 预置试验 JESD22-A113 JEDECJ-STD-020
XR-008 半导体器件功率循环系统 控制实际结温进行功率循环 MIL-STD-750 method 1037
XR-009 高加速寿命试验箱 高压蒸煮实验/加速应力实验 JESD22-A110

元器件测试室

编号 设备名称 功能 试验标准
XT-001 雪崩能量测试系统 雪崩能力测试 AEC-Q101-004, MIL-STD-750 Method 3470
XT-002 半导体测试系统 直流参数测试 MIL-STD-750F 2012 Method 3400 Series
XT-003 自动探针测试台 芯片参数测试 Datasheet/Customer Requests
XT-004 高精度功率MOSFET 栅电组测试仪 栅电组测试 JEDEC Standard JESD24-11
XT-005 功率器件动态参数测试系统 动态参数测试 MIL-STD-750 Series
XT-006 稳态热阻测试仪 分立功率器件参数测试 MIL-STD-750 Series
XT-007 小型温度试验箱 温度环境变化的参数测试 User Specification Customer Requests
XT-008 半导体器件分析仪&曲线追踪仪 功率分立器件电性能测试 MIL-STD-750F 2012 Series
XT-009 LED测试系统 LED的瞬态以及稳态光学特性测量 LES NA LM-79 GB/T 24824

应用系统测试室

编号 设备名称 功能 试验标准
XA-001 开关电源自动测试系统 开关电源的功能性测试 Specification/Customer Requests
XA-002 屏蔽室 射频干扰的屏蔽 EN50147-1
XA-003 EMI传导测试系统 传导抗扰度测试 CISPR 22/FCC Part 15/EN55022
XA-004 电源老化柜 开关电源的老化测试 User Specification/Customer Requests
XA-005 静电放电测试仪.标准试验台 静电放电抗扰度测试 IEC61000-4-2/EN61000-4-2
XA-006 雷击浪涌发生器.耦合/去耦网络 雷击浪涌抗扰度测试 IEC61000-4-5/EN61000-4-5
XA-007 示波器 波形测试 Specification/Customer Requests
XA-008 安规综合测试仪 耐电强度、绝缘阻抗和漏电流测试 IEC60950-1/UL60950-1
XA-009 电机测试系统 轮毂电机及差速器电机测试 QC/T792-2007

失效分析实验室

编号 设备名称 功能 试验标准
XF-001 X射线检测设备 样品内部探测 MIL-STD-750 Method 2076
XF-002 超声波扫描显微镜 样品断面扫描(样品内部探测) MIL-STD-883 Method 2030
XF-003 金相显微镜 目检 MIL-STD-883/MIL-STD-750/JEDEC
XF-004 体视显微镜 连续变倍,高清晰度大视场 -
XF-005 精密切割机 切割 -
XF-006 研磨/抛光机 半自动的磨抛机 -

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